2015년 제1회
연구장비전문가 자격검정 시행계획 공고
연구장비전문가 자격제도 운영·관리규정 제4조 제2항에 따라 2015년 제1회 연구장비전문가 자격검정 시행계획을 다음과 같이 공고합니다.
2015년 10월 21일
한국기초과학지원연구원장
1. 시험시행 일정 시험시행 일정 목록구 분 | 원 서 접 수 기 간 | 시험장소 | 시행지역 | 시 험 일 자 | 합격자발표 | 제1차 필기시험 | 2015.11. 9(월) 09:00~ 2015.11.13(금) 18:00 | 홈페이지 게재 (2015.11.30.) | 대 전 | 2015.12.19(토) | 2016.1.15(금) | 제2차 구술시험 | 2016.2. 15(월) 09:00~ 2016.2. 19(금) 18:00 | 2016.3.12.(토)~2016.3.26.(토) | 2016.4.15(금) | 2. 검정과목 및 검정방법 검정과목 및 검정방법 목록검정분야 | 검정과목 | 검정방법 | 현미경 분석 (4과목) | 주사 전자현미경(SEM) | 1차 필기시험 형태 : 객관식(4지선다형) 문항수 : 80문항 시험시간 : 120분 2차 구술시험 형태 : 심층면접 시험시간 : 1개 분야당 60분 | 투과 전자현미경(TEM) | 주사 탐침현미경(SPM) | 공초점 레이저현미경(CLSM) | 분리 분석 (5과목) | 액체 크로마토그래프(LC) | 기체 크로마토그래프(GC) | 이온 크로마토그래프(IC) | 액체 크로마토그래프 질량 분석기(LC/MS) | 기체 크로마토그래프 질량 분석기(GC/MS) | 분광 분석 (5과목) | 자외선·가시광선 분광 광도계(UV/Vis) | 푸리에변환 적외선 분광기(FT-IR) | 핵자기 공명 분광기(NMR) | 원자흡수광도계(AAS) | 유도결합 플라즈마 질량 분석기(ICP/MS) | 엑스선 분석 (3과목) | 엑스선 형광 분석기(XRF) | 엑스선 광전자 분광기(XPS) | 엑스선 회절 분석기(XRD) | 물성 분석 (3과목) | 열 분석기(TA) | 입도 분석기(PSA) | 원소 분석기(EA) |
3. 자세한 사항은 붙임 참조
붙임 : 공고문. 끝. |